Ver el mundo de otra forma

Autores/as

  • M. Felicita Ruiz

Resumen

La retrospectiva de Jaime Hayon nos pone en contacto
con el trabajo de uno de nuestros diseñadores de más éxito
nacional e internacional. Su currículum es sobradamente
conocido y en él destaca su paso por la Fábrica en 1997, el
centro de investigación del grupo Benetton dirigido por
Oliviero Toscani y donde experimentó con la comunicación
contemporánea en todas sus vertientes. Tras su inicial
proceso de formación pasó de alumno a maestro, asumiendo
el cargo de director del Departamento de Diseño hasta
2003.

Descargas

Los datos de descargas todavía no están disponibles.

Descargas

Publicado

2023-12-07

Cómo citar

Ruiz, M. F. (2023). Ver el mundo de otra forma. ARXIU. Revista De l’Arxiu Valencià Del Disseny, (2), 272–275. Recuperado a partir de https://pasquin.uv.es/index.php/arxiu/article/view/27929
Metrics
Vistas/Descargas
  • Resumen
    56
  • PDF
    23

Número

Núm. 2 (2023): Arxiu. Revista de l'Arxiu Valencià del Disseny

Sección

Reseñas

Licencia

LICENCIA CREATIVE COMMONS

Aquellos autores/as que tengan publicaciones con esta revista, aceptan los términos siguientes:

  1. Los autores/as conservarán sus derechos de autor y garantizarán a la revista el derecho de primera publicación de su obra, el cuál estará simultáneamente sujeto a la Licencia de reconocimiento de Creative Commons que permite a terceros compartir la obra siempre que se indique su autor y su primera publicación esta revista.
  2. Los autores/as podrán adoptar otros acuerdos de licencia no exclusiva de distribución de la versión de la obra publicada (p. ej.: depositarla en un archivo telemático institucional o publicarla en un volumen monográfico) siempre que se indique la publicación inicial en esta revista.
  3. Se permite y recomienda a los autores/as difundir su obra a través de Internet (p. ej.: en archivos telemáticos institucionales o en su página web) antes y durante el proceso de envío, lo cual puede producir intercambios interesantes y aumentar las citas de la obra publicada. 

Métrica